 |
|
Subject: cycle/micrometer Уважаемые коллеги прошу прощение за повторение поста. По тексту перевода поняла, что сомневаюсь в передыдующем ответе на тему cycle/micrometerCarrier A was used untreated as received from the manufacture. Surface AMF imaging of this carrier is shown on Fig 1. No visible protrusions on the surface are detected. Power spectral density analysis shown no feature frequencies above 200 cycle/micrometer. Замучилась гуглить ей богу. Спасибо за ранее |
|
Судя по предыдущему и этому тексту это не циклы катализатора. Скорее речь идет о частоте сканирования или профилирования поверхности носителя катализатора. Тогда это частота сканирования щупом на один микрон длины сканирования. |
| thanks |
| You need to be logged in to post in the forum |