 |
| |||
| probing (метод испытаний ЭЛТ, в котором для создания электрических контактов с проверяемой на пластине полупроводника структурой используются тонкие заострённые зонды) | |||
| probing | |||
| зондовая проверка: 3 phrases in 1 subject |
| Microelectronics | 3 |
|
| |||
| probing (метод испытаний ЭЛТ, в котором для создания электрических контактов с проверяемой на пластине полупроводника структурой используются тонкие заострённые зонды) | |||
| probing | |||
| зондовая проверка: 3 phrases in 1 subject |
| Microelectronics | 3 |